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  • 日本理学ZSX Primus 波长色散X射线荧光光谱仪
    日本理学ZSX Primus 波长色散X射线荧光光谱仪

    Rigaku ZSX Primus 波长色散X射线荧光(WDXRF)是ZSX系列中最新的仪器  ，沿袭了日本理学仪器实时提供精确结果的古板  ，以无与伦比的可靠性  ，灵活性和简便性应用于当今实验室的种种挑战。随着日本理学的经验不绝逾越用户的期望  ，ZSX Primus成为所有X射产品的首选。 ZSX Primus可灵活剖析庞大样品。30μm超薄窗光管  ，包管轻元素剖析灵敏度。最先进的mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus完全具备迎接当今实验室挑战。 Rigaku ZSX Primus波长色散X射线荧光光谱仪  ，快速定量元素剖析的高性能WDXRF。应对种种各样的样品  ，以最低标准提供从铍（Be）到铀（U）的主要和次要原子元素的快速定量测定。

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  • 日本理学ZSX Primus 400连续波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）  ，用于大样品
    日本理学ZSX Primus 400连续波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）  ，用于大样品

    Rigaku 奇特的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理很是大或重的样品而设计。该系统可接受直径最大为 400 毫米、厚度为 50 毫米和质量为 30 千克的样品  ，很是适合剖析溅射靶材、磁盘  ，或用于多层薄膜计量或大型样品的元素剖析。

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  • 日本理学ZSX Primus III+上照射连续波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）
    日本理学ZSX Primus III+上照射连续波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）

    Rigaku ZSX Primus III+ 可快速定量测定种种样品类型中从氧 (O) 到铀 (U) 的主要和次要原子元素-使用最少的标准品。

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  • 日本理学ZSX Primus IV下照射波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）
    日本理学ZSX Primus IV下照射波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）

    日本理学ZSX Primus IV下照射波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）可快速定量测定从铍 (Be) 到铀 (U) 的种种主要和次要原子元素样本。

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  • 日本理学ZSX Primus IV上照射波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）
    日本理学ZSX Primus IV上照射波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）

    日本理学ZSX Primus IV波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）具有卓越的性能和剖析最庞大样品的灵活性  ，具有 30 微米 Be 管窗口  ，是业内最薄的标准管窗口  ，具有精彩的轻元素（低 Z）检测限。

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  • 日本理学Supermini 200大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪
    日本理学Supermini 200大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪

    新型Supermini200大功率台式波长色散X射线荧光光谱仪拥有改良的软件功效和更为小巧的机身。作为世界上的大功率台式顺序式波长色散型X射线荧光（WDXRF）光谱仪  ，可以剖析险些任何质料中从氧（O）到铀（U）的元素。理学的Supermini200是提供低本钱（COA）、高区分率和低检测限（LLD）的仪器。

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  • 理学DSC8231差示扫描量热仪（DSC）
    理学DSC8231差示扫描量热仪（DSC）

    差示扫描量热法（DSC）量化了熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变革  ，主要用于研发；以及聚合物、制药领域的质量控制。 Rigaku 的DSC8231差示扫描量热仪是热流型  ，热传导量恒定。凭据最大温度和灵敏度差别  ，有多种配置可供选择。 Rigaku 的DSC8231差示扫描量热仪有多种标准配件的选择  ，如低温冷却系统、自动进样器等具体取决于丈量样品目标。

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  • 理学DSCvesta差示扫描量热仪（DSC）
    理学DSCvesta差示扫描量热仪（DSC）

    差示扫描量热法（DSC）量化了熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变革  ，主要用于研发；以及聚合物、制药领域的质量控制。 Rigaku 的DSCvesta差示扫描量热仪是热流型  ，热传导量恒定。凭据最大温度和灵敏度差别  ，有多种配置可供选择。 Rigaku 的高灵敏度型DSCvesta差示扫描量热仪有多种标准配件的选择  ，如低温冷却系统、自动进样器、样品视察相机  ，具体取决于丈量样品目标。

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  • 理学TMA8311热机械剖析仪（TMA）
    理学TMA8311热机械剖析仪（TMA）

    热机械剖析（TMA）是通过施加非振荡负载  ，如压缩、拉伸或弯曲  ，丈量样品加热或冷却时样品形状的变革的要领。TMA包括基于样品形状和丈量目标的压缩加载法、拉伸加载法、渗透法和三点弯曲等丈量模式。被广泛用于丈量样品的热膨胀比和软化温度。 Rigaku TMA8311热机械剖析仪接纳了差胀原理  ，消除了检测机构自己爆发的热膨胀或收缩。除了恒载外  ，负载控制还可以设置为两种类型：恒速加载模式和正弦波循环加载模式。 配件样品控制器（SCTMA）  ，通过收缩率控制温度  ，可以作为有效模拟陶瓷烧结的一种选配  ，生产具有抑制晶粒生长的烧结质料。

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  • 理学DSCvesta2差示扫描量热仪（DSC）
    理学DSCvesta2差示扫描量热仪（DSC）

    差示扫描量热法（DSC）量化了熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变革  ，主要用于研发；以及聚合物、制药领域的质量控制。 Rigaku 的DSCvesta2差示扫描量热仪是热流型  ，热传导量恒定。凭据最大温度和灵敏度差别  ，有多种配置可供选择。 Rigaku 的高灵敏度型DSCvesta2差示扫描量热仪有多种标准配件的选择  ，如冷藏冷却系统、自动进样器、样品视察相机  ，具体取决于丈量样品目标。

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  • 理学STA8122同步热剖析仪（TG-DTA或TG-DSC或STA）
    理学STA8122同步热剖析仪（TG-DTA或TG-DSC或STA）

    Rigaku同步热剖析仪（STA）是一种同步丈量热重剖析（TG）和差热剖析（DTA）的剖析仪（TG-DTA）。通过使用标准金属的熔融峰进行校准  ，将差热剖析（DTA）转换为差示扫描量热法（DSC）  ，也可以将其用作TG-DSC。 热重剖析（TG）丈量样品的重量变革使我们能够剖析反应温度和脱水、热剖析、蒸发、氧化等反应中的重量变革率。差热剖析（DTA）丈量吸热或放热反应温度  ，如转变、熔化、结晶、脱水、剖析、氧化和玻璃化转变温度。 Rigaku STA8122同步热剖析仪接纳水平差分三线圈平衡  ，消除了导致TG漂移的种种波动  ，以实现高度准确的重量变革丈量。别的  ，还配备了样品控制TG要领（SCTG）。这是一种由样品重量变革率控制温度的要领  ，有两种模式：即恒定反应控制（CRC）和逐步等温剖析（SIA）。 可选购CCD相机模块捕获样品的视觉图像的同时进行丈量。通过CCD相机可以视察到与反应相关的样品的形状变革或颜色变革  ，可以直观的解释TG-DTA结果。

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  • 日本理学 Mini-Z 系列台式单位素剖析仪  ，波长色散X射线荧光(WDXRF)
    日本理学 Mini-Z 系列台式单位素剖析仪  ，波长色散X射线荧光(WDXRF)

    Rigaku Mini-Z 系列台式单位素剖析仪是一系列紧凑型台式波长色散 XRF 剖析仪  ，专为剖析特定的简单位素而设计。由于光学器件针对特定元素进行了优化配置  ，因此该系列可实现高精度和低检测限。

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